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首頁-產品系統(tǒng)-FTIR系列-IRE200-IRE-200 膜厚測試儀

IRE-200 膜厚測試儀

簡要描述:光學薄膜測厚儀,IRE-200是一款超高精度的外延層厚度測量設備,利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析,主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。

產品型號:  更新時間:2025-02-08  瀏覽次數:2205

  • 廠家實力

    Manufacturer Strength
  • 有效保修

    Valid Warranty
  • 質量保障

    Quality Assurance

詳細介紹

 

一、概述

IRE-200光學薄膜測厚儀是一款超高精度的外延層厚度測量設備,利用紅外光譜經傅里葉變換進行快速分析,主要應用于Si、GaAs、InP、SiC、GaN等各類外延片的外延層厚度測量。

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■ 單拋/雙拋等多種模式選擇支持;

■ 自定義mapping功能;

■ 高檢測速率:Si標準外延片測量25點≤3min;

■ 高檢測精度:≤0.01um 。

二、產品特點

1)設備采用高性能光源模塊,光源穩(wěn)定性好,信噪比高,覆蓋范圍7800-350cm-1。

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2)搭配自主研發(fā)算法軟件,可精準快速地獲取測量結果。

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3) 搭配自主研發(fā)的mapping運動臺,定位精準、測量速度快。

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三、產品應用

 IRE-200廣泛應用于半導體行業(yè)中Si、SiC、GaAs、InP、GaN等基底材料上外延層厚度的量測。

SiC EPI量測案例

      

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技術參數

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